艾利普所科技成立于2000年7月份,是生产通过薄膜薄层的偏振态变化来测量和分析薄膜结构、性质的光学测量仪器的公司。我们在这一领域积累了30年的优秀经验,通过提供最优良的设备以及针对相关薄膜和光偏振态变化的建议,我们会促使贵公司的发展和成长。


薄膜在21世纪纳米技术(NT)时代有着多样化的应用,因此,对薄膜的结构和性能测量的仪器—椭偏仪(Ellipsometer)的需求也大大的增加。


然而,由于基础设施缺乏,国内工业企业不得不100%的依靠进口设备。Kim Sang-Youl—Ajou大学的教授,世界上著名的椭偏法专家。在2000年7月,以其丰富的研究经验成立了艾利普所科技。这是国内最专业的公司,特别是在薄膜的偏振分析上。


金教授通过艾利普所科技公司开发了单波长椭偏仪(Single Wavelength Ellipsometer, SWE)和光谱椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometer, SE),他还发展延伸了系统,包括加入双激光,可变入射角(AOI),映射,微观察,偏振控制,光谱传输/反射比等。
 

另外,除了椭偏仪和偏振器等产品,通过综合椭偏仪与分光计,并且采用探针式光谱反射计(m-FFT),我们公司研发和供应了宽范围测量厚度的光学设备,可测量如从亚埃级薄膜到数百微米厚的厚膜,用于各种产品,比如图案上的 MgO模式, OLED, LED, 太阳能电池(Solar Cell)等。


此外,基于椭偏和偏振技术,我们开发了的超精准度的偏振测量设备,比如迟缓(R_in, R_th, Zero Retardation)分析设备,拓片薄膜测量系统,高铬(<百万:1)测量系统,针对多组合平板(含偏振板和补偿板)的光轴弯曲测量系统,还有微偏振测量器相继被开发。
 

通过不断的研究,艾利普所科技成为了世界上光学薄膜分析设备领先的制造商。我们希望通过提供客户定制和薄膜&偏振分析系统的行业导向跟你们一起成长。

韩国Ellipso Technology

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